计量学报

作者：李语奇,王仁生,张明,张俊伟,杨志杰,梁珺成

单位：1. 中国计量科学研究院, 北京 100029; 2. 东华理工大学, 江西 南昌 330013;

关键词：计量学; 正比计数器; 平面源; 表面发射率; 低能脉冲修正; 蒙特卡罗模拟

为了研究工作气体气压变化对α和β源表面发射率绝对测量的影响,在α、β表面粒子发射率基准装置上,通过改变多丝正比计数器工作气体压强,对大面积α平面源241Am、β平面源204Tl和90Sr/90Y的表面粒子发射率进行了绝对测量,并通过阈值外推方法对低能信号引起的漏计数率进行修正。结果表明,当工作气体压强在50～180kPa气压范围内变化时,不同气压条件下的α、β表面粒子发射率测量结果在实验不确定度范围内相一致。基于Geant4程序包对探测器结构进行建模,Monte Carlo方法给出的模拟结果得出的结论与实验结果相符。

来源：2019年第1期

《计量学报》期刊编辑部

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