计量学报

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国内刊号:11-1864/TB

国际刊号:1000-1158

计量学报杂志2020年第2期:基于FCM优化的平面阵列电容成像算法

发布日期:

作者:温银堂,曹鹏鹏,田洪刚,张玉燕,罗小元

单位:燕山大学电气工程学院,河北秦皇岛066004

关键词:计量学;胶层缺陷图像重建;隔热复合材料;FCM算法;平面阵列传感器;电容层析成像

基金:国家自然科学基金(61573302);河北省自然科学基金(E2017203240)

为提高平面阵列电容成像系统的成像精度,提出了一种基于FCM数据优化的成像算法。根据平面阵列电极电容数据的特点,为减小电容测量误差对介电常数的影响,利用FCM算法对测量电容值的不断收敛以实现数据优化的作用,在减弱噪声的同时提高电容值数据的稳定性。在此基础上,对一种隔热材料胶层进行缺陷检测实验,使重建图像的相关系数得到了提高,减小了图像重建误差。实验结果表明:图像重建结果的优化算法可获得更加稳定、有效的电容数据,胶层缺陷图像重建精度具有较大提升。

来源:2020年第2期

《计量学报》期刊编辑部

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