计量学报

作者：王智,李琪,黄鹭,高思田,孙淼,董明利

单位：1. 中国计量科学研究院,北京 100029; 2. 北京信息科技大学 仪器科学与光电工程学院,北京 100192;

关键词：计量学;粒径测量;纳米颗粒;扫描电子显微镜;长短轴比

基金：国家重点研发计划(2016YFA0200901);自然科学基金青年基金(51805505);中国计量科学研究院基本科研业务费(AKY1817);北京信息科技大学2018—2019年度“实培计划”项目

基于数学几何学,提出一种扫描电镜纳米颗粒粒径自动检测方法,该方法利用电镜颗粒图像的粒径分布及形状信息,采用长短轴比值和区域面积2种不同参数对颗粒是否团簇或残缺进行判断,实现筛选单个的完整颗粒,并使用MATLAB对不同粒径参数的颗粒宽边缘形状进行提取,运用最小二乘法求出颗粒粒径的像素值,经转化后得到真实值,从而实现了微纳米颗粒粒径的自动检测。试验选取聚苯乙烯纳米颗粒对方法进行验证,结果表明:对于团簇残缺较少的图像,采用长短轴比值和面积2种参数进行筛选均能准确有效提取单点颗粒,但团簇残缺颗粒较多时,采用长短轴比值效果更加准确,且计算颗粒粒径与实际值吻合良好。

来源：2020年第10期

《计量学报》期刊编辑部

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