计量学报

作者：王一帮,周瑞,陈婷,吴爱华,刘晨,梁法国

单位：中国电子科技集团公司 第十三研究所,河北 石家庄 050051

关键词：计量学; 在片测试; 16项误差模型; 校准件定值; Multiline TRL; 串扰

现有商用集总参数校准件电路模型使用简便,但由于校准件电路模型的不完善、电路中参数在提取过程中采用拟合算法等原因,导致其定值准确度受限。从用于高频串扰修正的16项误差模型校准件设计入手,给出了校准件高精度的定值方法——即通过研制辅助的Multiline TRL校准标准,采用测试加仿真的方式对校准件进行定值,并采用定值文件作为定值样式。采用定值过的16项误差模型校准件校准在片测试系统,并与美国NIST基于Multiline TRL的二次校准方法比较,在110GHz内,两者S21相差在0.30dB以内,相位相差1°以内。所不同的是,16项误差模型校准件的个数远低于NIST,并且在校准过程中不需要移动探针。在保证准确度的前提下,大大提高了测试效率。

来源：2021年第3期

《计量学报》期刊编辑部

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