计量学报

作者：余涛,郭思明,周建斌,蒋政,郄晓雨,郭锴悦,吴金杰

单位：1. 成都理工大学,四川 成都 610059; 2. 中国计量科学研究院, 北京 100029;

关键词：计量学; CdTe探测器; 本征探测效率;蒙特卡罗; 探测效率刻度

基金：中国计量科学研究院基本科研业务费(AKYZZ2115)

CdTe探测器对单能平行光子源的绝对测量之前,需要进行效率刻度。利用MCNP5蒙特卡罗模拟程序建立CdTe探测器物理模型,模拟计算了10~260keV能量段能点的本征探测效率,在10~60keV能量段探测效率高于75%。用单能X射线装置和HPGe探测器对CdTe探测器本征探测效率进行了实验刻度。结果表明,在10~100keV能量范围内CdTe探测器的模拟效率与实验效率趋势一致,最大误差不超过5.6%。因为Te元素在27keV和32keV处会产生逃逸峰,导致探测效率在这2个能量处有明显下降趋势。用241Am和133Ba放射源对CdTe探测器进行效率刻度验证,在能量为59.54keV和81keV放射源标定的探测效率与单能X射线辐射装置测量值相符。

来源：2022年第10期

《计量学报》期刊编辑部

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