计量学报

作者：温银堂,王凯,张玉燕,宗乐文,潘钊

单位：燕山大学 电气工程学院,河北 秦皇岛 066004

关键词：无损检测; 电容成像;同面阵列电容; 敏感场; 图像重建

基金：河北省自然科学基金 (F2021203024);河北省科技计划(216Z1704G)

同面阵列电极敏感场的非线性特性导致图像重建过程存在严重的不适定性,为提高同面3×4阵列电容成像系统的成像质量与稳定性,提出了一种数据降维并结合平方增敏的方法对敏感场进行优化。该方法依据最大熵原理实现敏感场的自适应降维寻优,重构得到的特征敏感场与实际敏感场具有更高的特征匹配度。另外,平方化的增敏方式可以增强敏感场特征数据与和非特征数据的对比度,同时还可以减弱敏感场矢量求解造成的特征边缘波动性。最后通过同面3×4阵列电容成像系统,设计了多组实验对所提优化方法的有效性进行验证,结果表明敏感场优化后的重建图像质量与稳定性明显提高。

来源：2024年第2期

《计量学报》期刊编辑部

查看计量学报杂志2024年第2期