计量学报

北大核心,JST,CSCD扩展版,WJCI,

国内刊号:11-1864/TB

国际刊号:1000-1158

计量学报杂志2024年第12期:基于1-bit压缩感知非凸算法的平面ECT图像重建

发布日期:

作者:唐志浩 张立峰

关键词:材料缺陷检测; 平面电容成像;ECT图像重建; 1-bit压缩感知; 极大极小凹惩罚; 非凸算法

基金:国家自然科学基金(61973115)

为提高平面电容成像系统的成像质量并提高重建速度,提出了一种基于1-bit压缩感知(1-bit CS)非凸算法的平面ECT图像重建方法。首先,利用离散余弦基(DCT)对灰度值进行稀疏表示;其次,引入极大极小凹惩罚(MCP)作为正则化项,并建立1-bit CS MCP正则化模型;然后,通过MCP非凸算法迭代更新对偶解的近端算子,以求取最优对偶解;最后,根据对偶解求出重建灰度值并进行图像重建。仿真与实验结果表明,相比于Tikhonov算法、Landweber算法及传统压缩感知算法,所提方法得到的重建图像平均相对误差和相关系数分别为0.0496和0.9435,平均重建时间约为0.1723s,均优于其他3种算法,缺陷还原度及重建速度有明显提升。

来源:2024年第12期

《计量学报》期刊编辑部

查看计量学报杂志2024年第12期

联系我们

  • 地址:北京市朝阳区北三环东路18号
  • 电话:010-64271480

咨询工作人员