计量学报

作者：付海宇, 周乐平

关键词：热学计量,Hamaker常数,纳米薄膜,低压,分子动力学

基金：国家自然科学基金(52376053)

目前，分子间Hamaker常数普遍使用原子力显微镜测量和研究，而对于低压下蒸发纳米薄液膜Hamaker常数的模拟方法鲜有报道。采用分子动力学模拟方法，用活塞法控制压力以使系统维持低压环境，通过固液界面相互作用计算Hamaker常数。结果表明，在设定条件下，薄液膜在7 ns后可达到稳定蒸发状态。根据薄液膜在7~10 ns固液界面相互作用力，计算出50 ?液膜Hamaker常数为1.55×10-21 J，误差仅1.65%；Hamaker常数随液膜厚度增加而减小。此方法也可适用于计算其他固体壁面和液体组合的情形。

来源：2025年第6期

《计量学报》期刊编辑部

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