计量学报

作者：蒋鹏煊, 赵瑞, 杨智君, 张健, 吴金杰, 包俊霞, 丁卫撑

关键词：电离辐射计量,浅表X射线治疗,电离室修正因子k ch,平板电离室,水吸收剂量

基金：中国计量科学研究院基本科研业务费(AKYZZ2318)

为实现浅表X射线治疗水吸收剂量的精确测量，研究了PMMA模体中电离室修正因子k ch的测量方法。在浅表X射线治疗辐射质下，基于不同孔径的钨合金限束光阑，研究了平板电离室PTW23342和PTW23344在空气中与PMMA模体表面测量的电离电荷读数之比变化；基于蒙特卡罗模拟，实现了背散射因子的确定；测量得到了不同电离室修正因子k ch随半值层和辐射束大小的变化情况。测量结果表明：在SRT-50a、SRT-50b、SRT-70和SRT-100四个参考辐射质下，当源皮距为 0.45 m、辐射束大小为3.0~7.2 cm时，平板电离室PTW23342的空气与PMMA模体表面测量读数之比在0.870 0~0.991 3范围内，k ch的测量结果在1.046~1.094范围内；平板电离室PTW23344的空气与PMMA模体表面测量读数之比在0.901 4~0.992 4范围内，k ch的测量结果在1.053~1.108范围内。

来源：2026年第1期

《计量学报》期刊编辑部

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